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电子元器件测试分选机芯片测试分选机三角阀

2023-01-18 12:04:10 角阀    

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1、半导体元件测试用分选机的制作方法。[0001]本发明涉及对于所生产的半导体元件进行测试时所使用的半导体元件测试用分选机(),尤其与用户托盘的接送有关。[0003]分选机随半导体元件的种类、测试目的或环境等其使用目的而演变成韩国公开专利号中所提出的方式或号中所提出的方式等多种方式。[0004]一般来讲,分选机具备用于接送半导体元件所装载或所能够装载的用户托盘的多个堆叠器(stacker)。

2、[0005]在多个堆叠器中有供给装载有所要测试的半导体元件的用户托盘的供给堆叠器以及能够收放装载有测试结束的半导体元件的用户托盘的收放堆叠器。供给堆叠器和收放堆叠器是至少具备一个以上。在供给堆叠器或收放堆叠器中能够容纳个数既定的用户托盘。

电子元器件测试分选机相关拓展

集成电路测试分选机

一种集成电路测试分选机的制作方法。26630380发布日期::48阅读:59来源:国知局。本实用新型涉及测试分选设备技术领域,尤其是涉及一种集成电路测试分选机。需要在现有集成电路测试分选机的基础上进行升级和改造,以克服现有问题和不足。本实用新型的目的是提供一种集成电路测试分选机,以解决现有技术中存在的缺点。

上述目的通过以下技术方案来解决:。优选的,所述任意一个出风盘表面的疏风通孔的数量均为3个,且出风盘表面的疏风通孔均呈三角点阵分布设置。优选的,所述海绵板的一端边缘均与固定吸盘的中部对齐。优选的,所述固定吸盘与海绵板之间的间距均为0.3cm。优选的,所述固定凹槽为均匀等距排列分布。优选的,所述活动滚轮、电动转轴和控制面板分别与外部电源电力连接。

芯片测试分选机

[0001]本发明涉及半导体器件测试领域,特别是涉及一种多工位半导体封装芯片测试分选方法。[0002]随着半导体制作及检测工艺的不断发展,分选机被广泛应用于半导体器件的检测过程中,以对半导体封装芯片(1C)进行质量品质测试,分选出测试合格和不合格的成品。而随着半导体封装芯片的产能不断提升,为了提高测试分选的效率,分选机通常具有多个工位,以对多个半导体封装芯片同时测试和分选。

[0003]图1举例说明现有的多工位分选机与测试仪(ATE)的电连接关系。上述电缆的连接是由人工完成,同时机械手、TESTS和通信接口都是人工识别,因此测试电缆及通信电缆的连接关系容易出错,导致测试结果错误。[0005]例如图2所示,分选机的四个通信接口和测试仪的四个通信接口通过四条通信电缆连接的连接关系正确,而四个测试端口与四个机械手的测试电缆连接关系接错。

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